測定器

株式会社インデコでは、使い易く、高性能な各種測定器を取扱っています。

■ 波長・周波数解析 - 波長計, 周波数カウンタ

■ スペクトル解析
├　スペクトロメータ（分光器）
└　モノクロメータ

■ ビーム品質解析
├　ビームアナライザ
└　ファブリペロー干渉計

■ 短パルス測定 - オートクロスコリレータ

■ フォトディテクタ
├　アバランシェフォトダイオード
├　フォトディテクタ
└　プリアンプ

■ パワー＆エネルギー測定
├　パワーメータ
├　エネルギーメータ
├　OEM センサ
└　熱量計

■ ビーム検知
├　赤外線ビュワシステム
├　CCD カメラ
├　センサカード
└　ファイバチェッカ

■ フォトンカウンティング（蛍光寿命計測）

■ 分子センサ

テクニカルインフォメーション

波長・周波数解析 - 波長計・周波数カウンタ

メーカー	Model	種類	波長	分解能
HighFinesse	WS series	Pulse & CW	192 nm ～ 11 μm	最高 0.00002 nm
（株）光コム	MF-5802A	周波数カウンタ	1530～1565 nm	100 kHz

ビーム品質解析 - ビームアナライザ

メーカー	製品名	波長	概要
Gentec-EO	ビーム診断装置	190～3500 nm

ビーム品質解析 - ファブリペロー干渉計

メーカー	Model	波長	FSR
TOPTICA	FPI 100	330～3000 nm	1.0 GHz or 4.0 GHz
TOPTICA	miniScan	ピエゾドライバ＆PD アンプ付きスキャンジェネレータ

スペクトル解析 - スペクトロメータ（分光器）

メーカー	Model	タイプ	波長	分解能
HighFinesse	LSA	高感度, 広帯域	248～1750 nm 2～11 μm	10 pm @ 633 nm 15～30 nm
HighFinesse	HDSA	広帯域, 高分解能	400～900 nm	30 GHz @ 600 nm
SOLAR LS	S100	コンパクト, 広帯域	190～1100 nm	1.0 nm
SOLAR LS	S150	コンパクト, 高分解能	200～1100 nm	0.015 nm
SOLAR LS	SDH	ハイアパーチャ	200～2590 nm	0.06 nm
SOLAR LS	S41	小型レンズ	200～1140 nm	0.9 nm

スペクトル解析 - モノクロメータ

メーカー	Model	タイプ	波長	分解能
SOLAR LS	ML44	多機能, コンパクト	200～1200 nm	inquire
SOLAR LS	M266	自動	180～3290 nm	0.1 nm
SOLAR LS	MSA-130	ダブル加算／減算モード	190～1300 nm	0.07 nm
SOLAR LS	M833	ダブル分散, 自動	180～4800 nm	≧0.012 nm

短パルス測定 - オート／クロスコリレータ

メーカー	Model	波長（nm）	パルス幅
Femtochrome	FR-103XL	410～1800	1 fs （ワイドスキャンレンジ）
Femtochrome	FR-103MN	410～1800	1 fs（高感度）
Femtochrome	FR-103HS	410～1800	< 3 fs（超高感度）
Femtochrome	FR-103HP	410～5000	< 1 fs（ハイパワー対応）
Femtochrome	FR-103WS	410～1800	< 3 fs（超ワイドスキャンレンジ）
Femtochrome	FR-103RM	410～1800	< 3 fs（ラックマウント, FC）
Femtochrome	FR-103kHz	500～3000	5 fs ～ 5 ps（kHz 繰返し周波数対応）
Femtochrome	FR-103PD	500～3000	5 fs ～ 10 ps（高分解能, TPC タイプ）
Femtochrome	FR-103MC	500～3000	10 fs ～ 10 ps（超小型）
Femtochrome	FR-103TPM	500～3000	10 fs ～ 10 ps（TPC タイプ）
Minioptic	Delta	500～1600	20 fs ～ 100 ps, 1 shot ～ > 100 MHz
Tekhnoscan	FS-PS-Auto	inquire	10 fs ～ 30 ps
アルネアラボラトリ	HAC-200	1400～1650	50 or 100 ps

フォトディテクタ - アバランシェフォトダイオード

メーカー	Model	種類	波長（nm）	Rise Time
GPD Optoelectronics	GAV	chip	NIR	inquire
Laser Components	SAxx IAx	chip	400～1100 1000～1650	≧450 ps ≧350 ps
Laser Components	H	chip	400～1650	inquire
Laser Components	LCSA LCIA	module	400～1100 1000～1650	450/500 ps 700 ps
Laser Components	dBC/ABC/HV 1000	APD 用高電圧モジュール

フォトディテクタ - フォトディテクタ

メーカー	Model	種類	波長（nm）	Rise Time
Femto	HSA-X-S	module	320～1700	180~250 ps
Femto	HCA-S-400M	module	320～1700	1 ns
Femto	HCA-S-200M	module	320～1650	1.8 ns
Femto	OE-200	module	320～1700	700 ns ~ 300 μs
Femto	FWPR-20	module	320～1700	18 ms
Femto	LCA-S-400K	module	400～1700	1 μs
Zomega Terahertz	ABL-100	module	740～860	-
Daylight Solutions	-	module	4~12μm	< 3 ns
GPD Optoelectronics	GM, GEP	chip	350～1000 1000～1800	inquire
GPD Optoelectronics	GMxSi	chip	400～1800	inquire
Optowell	xP	chip	850 nm	inquire
GPD Optoelectronics	GAP	chip	NIR	2.5~300 ns
GPD Optoelectronics	GAP	chip	NIR	0.04~0.25 ns
DenseLight	DL-PD	chip	1.0~1.65 μm	inquire

フォトディテクタ - プリアンプ

メーカー	Model	バンド幅	利得
Femto	LCA series	400 kHz	1 x 10¹³ V/A
Femto	DLPCA-200	500 kHz	10³ ～ 10¹¹V/A（variable）
Femto	HCA series	400 MHz	1 x 10⁶ V/A
Femto	DHPCA-100	200 MHz	10² ～ 10⁸ V/A（variable）

パワー＆エネルギー測定 - パワーメータ

メーカー	波長（μm）	センサ	測定範囲	特長
Gentec-EO	0.19～20	thermal	1 μW to 500 W
Gentec-EO	0.2～1.8	Si, Ge, InGaAs	1 pW to 30 mW	微弱パワー検出

パワー＆エネルギー測定 - エネルギーメータ

メーカー	波長（μm）	センサ	測定範囲	繰返し周波数	概略
Gentec-EO	0.35～2.5	Si, 焦電, InGaAs	20 pJ to 200 mJ	130 kHz	高繰り返し
Gentec-EO	0.19～20	thermal	150 nJ to 200 J	6 kHz
Gentec-EO	0.2～1.8	Si, Ge, InGaAs	2 fJ ～ 2 μJ	1.5 kHz	微弱エネルギー検出

ビーム検知 - 赤外線ビュワシステム

メーカー	Model	タイプ	波長
ElectroOptic	ABRIS-UV/IR	紫外＆赤外両用ビュワ	270～500 & 650～1700 nm
ElectroOptic	ABRIS-M	汎用ビュワ	350～2000 nm
ElectroOptic	SM-3R	小型ビュワ	350～2000 nm
Electrophysics	7215	ハンディタイプ	0.4～1.5 μm
Electrophysics	7290	チューブ型ビュワ	0.4～1.9 μm

ビーム検知 - CCD カメラ

メーカー	Model	タイプ	波長
ElectroOptic	CONTOUR	CCD カメラ	350～1700 nm
ElectroOptic	CONTOUR-M	CCD カメラ w/ディスプレイ	400～1700 nm
ElectroOptic	CONTOUR-IR	CCD カメラ w/o ディスプレイ	400～1700 nm
ElectroOptic	CONTOUR-IR digital	CMOS カメラ w/o ディスプレイ	400～1700 nm
HighFinesse	Lynceus-320	InGaAs CCD カメラ	0.9～1.7 μm

ビーム検知 - センサカード

メーカー	Model	製品名	波長
（株）インデコ特製	IR21	IR センサカード	800～1600 nm
HC Photonics	HCP	IR & SHG センサカード	IR： 800～1500 nm,　SHG： 400～750 nm

フォトンカウンティング（蛍光寿命計測）

メーカー	Model	製品名
Laser Components	COUNT series	単一光子測定器

分子センサ

メーカー	Model	製品名
Daylight Solutions	Swept Sensor	中赤外分子センサ
Laser Components	L5334	分子スペクトル解析ソフト

テクニカルインフォメーション

Electrooptic	赤外ビュワー動作原理
HighFinesse	WSシリーズ CW ＆パルス波長計 FAQ

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