CW &パルス・スペクトラムアナライザ
LSA Series![]()
◆ 中赤外領域(2〜11 μm)対応 LSA IR-III 登場:
感度 10 μJ/ 0.2 mW, 線幅測定精度 15 %(≧10 GHz)
◆ 192〜800 nm 対応 LSA UV-II 登場(詳細な仕様はお問合せください)
◆ 広帯域(192〜1190 nm)モデル LSA VIS/UV2 登場(詳細な仕様はお問合せください)
◆ 波長域: 370〜1120 nm(Standard), 248〜1100 nm(UV), 800〜1750 nm(IR)
◆ 高分解能 10 pm @ 633 nm
◆ ファイバ入力
◆ CW &パルス 両用
◆ 高感度: 5 nJ @ 633 nm
![]()
HighFinesse 社の LSA は、ランプ励起ガスレーザ、スーパールミネセンスダイオード、半導体 LD/LED といった、マルチラインまたはブロードバンド光源のスペクトル分析に最適なスペクトラムアナライザです。CW 及びパルス発振の両光源に対応できます。非常に感度が高く、微小な光でも測定可能です。
測定について
数値表示画面の仕様は、以下の二つです。Absolute Accuracy(絶対波長測定精度)は 6 GHz です。Resolution(分解能)は、波長の 5 %、または十分線幅が狭いレーザの場合 1 GHz となります。この値はピークが一つの場合の波長シフトの分解能を示しています。画面上の Analysis 画面の仕様は、Low Stage Resolution(分解能) 1 nm で、全ての波長範囲を測定可能です。
画面中段の Details Analysis 画面の仕様は、High Stage Resolution(分解能)で、隣同士のスペクトルを分解できる能力です。使用するファイバにより仕様が異なります。
シングルモードファイバを使用する場合は、λ/Δλ = 20000 です。例えば波長 400 nm の場合、Δλ = 400/20000 = 0.002 nm = 20 pm となります。
一方 50μm コアのマルチモードファイバを使用する場合、λ/Δλ = 10000 となります。例えば波長 400 nm では、Δλ = 400/10000 = 0.04 nm = 40 pm となります。50 μm 以上の径をもつマルチモードファイバを使用すると、正しく計測できませんのでご注意ください。
なお、Details Analysis は高次の反射を使って測定している為、測定する光のスペクトル幅が、1064 nm で 25 nm 以上、350 nm では 2 nm の以上の場合、高次と低次の反射が同一画面に表示される場合があります。また、パワーが大きすぎて測定できない場合、アライメントをずらしてファイバ出力を落とすと、レーザ発振領域以外の波長も拾ってしまい、スペクトル幅が広く測定されることがありますので、パワーが大きい場合はアッテネートするか、ビームをピックアップして入力パワーを調整して下さい。
| Model | LSA | |||
| Standard | UV | IR | ||
| Datasheet Download | Click HERE !(PDF, 1.6MB) | |||
| Demo Software | Click HERE ! | |||
| Measurement
Range |
370〜1120 nm | 248〜1100 nm | 800〜1750 nm | |
| Absolute Accuracy *4: |
248〜370 nm *1 | 6 pm *2 | ||
| 370〜1100 nm | 6000 MHz *8 | |||
| 1100〜1750 nm | 12000 MHz | |||
| Quick Coupling Accuracy | 12000 MHz with multi mode fiber | |||
| Wavelength Deviation Sensivity: |
248〜370 nm *1 | 5 pm *2 | ||
| 370〜1100 nm | 3000 MHz | |||
| IR(800〜1750 nm) | 5000 MHz | |||
| Spectral Resolution | 20000(SM), 10000(MM) |
20000(SM), 10000(MM) |
4000(SM), 2000(MM) |
|
| Linewidth High Stage *2, Accuracy | 10 % | |||
| Linewidth High Stage *2, Linewidth | 5000 MHz *3(min.), 1.5 THz(max.) | |||
| Measurement Speed *5,7: |
Data Acquisition | 400 Hz | ||
| Wavelength Calculation | 20 Hz | |||
| Linewidth Calculation | 20 Hz | |||
| Pattern Display | 15 Hz | |||
| Required
Input Power, μJ (or μW *6 ) |
0.001〜0.4 | 0.001〜0.1 | 0.02〜2 | |
| Defraction Grating, FSR | 〜5500 GHz | |||
| Coupling Fiber Diameter | 50 μm or SM fiber set | |||
| Calibration | built-in | built-in | built-in | |
| Calibration Period | ≦1 month (will be detected and done automatically) | |||
| Warm-up Time | No warm-up time under constant ambient conditions Otherw. until thermal and air pressure equilibrium is reached. |
|||
| Dimensions | 325 mm(L)x 180 mm(W)x 77 mm(H) | |||
| Weight | 2.8 kg | |||
| Interface | high-speed USB 2.0 connection | |||
| Power Supply | Power consumption < 2.3 W, supply directly via USB cable, IR-I via USB or external power supply possible |
|||
| Available Options | Linewidth option - L | |||
| Model | LSA IR-III | |||
| Type 2-3 | Type 4-6 | Type 2-11 | ||
| Datasheet Download | Click HERE !(PDF, 130KB) | |||
| Measurement
Range |
2〜3 μm | 4〜6 μm | 2〜11 μm | |
| Absolute Accuracy *4 | 1 nm | 2 nm | 5 nm | |
| Relative Accuracy | 1.25 x 10-4 | 3 x 10-4 | 5 x 10-4 | |
| Wavelength Deviation Sensitivity | 0.7 x 10-4 | 1.5 x 10-4 | 2.5 x 10-4 | |
| Spectral Resolution | 15 nm | 20 nm | 30 nm | |
| Linewidth Measurement Accuracy | 15 % | |||
| Maximal Linewidth | 1 THz (up to 15 THz *8) | |||
| Measurement Speed *7 | Wavelength & linewidth calculation: 200 Hz, Analysis: 15 Hz | |||
| Required Input Power | Pulsed: 10 μJ, CW: 0.2 mW | |||
| Diffraction Grating, FSR | 〜2.7 THz | |||
| Coupling Fiber | PIR-450/500 or CIR-450/500 | |||
| Calibration | built-in | - | 3.39 μm HeNe | |
| Calibration Period | 15 days | |||
| Warm-up Time | No warm-up time needed | |||
| Dimensions | 325 mm(L) x 180 mm(W) x 7 mm(H) | |||
| Weight | 3.0 kg | |||
| Interface | High-speed USB 2.0 connection | |||
| Power Supply | External power supply included | |||
*1 With multi mode fiber
*2 Only for standard range of 370 - 1100 nm
*3 But not better than 5 % of the linewidth
*4 According 3s criteria
*5 Without autocalibration usage
*6 The cw power interpretation in [μW] compares to an exposure of 1s (generally the energy needs to be divided by the exposure time to obtain the required power)
*7 depending on PC hardware and settings
*8 Broad line versions. For further information please contact us
*仕様は予告なく変更になる場合がございます。
Ne 放電ランプ計測例
Ne スペクトル線(自然放出発光)を吸収フィルタでフィルタリングした後に計測。
(上) 一次回折光
(下) 数学的分析を行った 120 次回折光
レーザダイオードのシングルライン抽出


レーザダイオードの特定波長域について
微細スペクトルを表示

微細スペクトルを表示

LSA IR-III による非安定化 3.4 μm HeNe & CO2 レーザの測定例
標準価格: お問合せにより (株)インデコの営業部 から回答致します。
Copyright(c) HighFinesse GmbH., 2011
